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    产品介绍

    • 非均匀性较正

      超高的非均匀性较正技术

    • -40℃ ~ +60℃

      -40℃ ~ +60℃环境下，工作稳定

    • 384×288像素

      17μm非制冷焦平面探测器

    技术参数

    型号DLD384/17μm
    敏感材料非晶硅
    阵列规模384×288
    像元间距17μm
    光谱范围8μm～14μm
    控温TEC
    帧频60Hz
    NETD(f/1,300K,50Hz)≤50mK


    可操作率≥99.5%
    功耗（不含TEC）130mW
    外形尺寸mm（不含引脚等）32×23.5×7.1
    重量≤20g
    工作温度范围-40℃～+85℃
    贮存温度范围-40℃～+85℃

    网站数据仅供参考，如遇变更或调整恕不另行通知，以实际产品为准。

    探测器对比

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